SANKO山高 TO-250D 针孔测试仪 用于薄膜检测 简介

SANKO山高 TO-250D 针孔测试仪 用于薄膜检测

SANKO山高 TO-250D 针孔测试仪 用于薄膜检测

特别内容  一种低功耗、高电压直流探测器，用于检测数百微米或更小薄膜中的针孔，如氟树脂。

它在针孔检测和缺陷检测中对电子设备和精密设备等薄绝缘膜非常有效。

规格

标准配件 电源线2米（带可转换插头）

高压柔性探针5米（带刷子支架）

接地线5米（带大口夹）

接地线5米（带夹子）

远程开关5米（带连接器）

扁平式刷电极（300X30毫米，黄铜）

探头外壳

动力来源 AC85~264V 50/60Hz（断路器3A）

尺寸 320（西）×230（D）×70（高）毫米

重量 约3.2公斤

类型  直流高压脉冲放电式

输出电压  1 ~ 5 kV（可变）

安全探测距离 0.3 ~ 5kV  短路电流 2.0mA或更低

报警方法 台灯，地面面板上的蜂鸣器