韩国Logos Systems 光束轮廓仪 XRV-3000 高能辐射检测

# 2025年新品发布会#

日期：2025年10月14日

时间：8：30-18：30

近期我司新推出升级了

韩国Logos Systems 光束轮廓仪 XRV-3000 高能辐射检测

韩国Logos Systems 光束轮廓仪 XRV-3000 高能辐射检测

XRV-3000 Eagle Beam Profiler 将高能辐射检测与精密二维计量相结合，形成基于胶片的测量的电子替代方案。XRV-3000 Eagle 以速度和精度测量辐射束的 XY 位置和轮廓。尺寸达 30 × 30 厘米的单束和质子能量层图案可以从垂直和水平方向指向闪烁体表面进行测量。自动化脚本可用于捕获光束形状、强度和位置随时间的变化。

XRV 系统校准质子和放射外科系统或工业辐射源，这些系统必须向 3D 空间中的目标区域提供精确数量的辐射。可以快速验证这些系统中使用的铅笔束扫描或机械叶片准直器的正确作。光束 FWHM 直径测量精度为 ±0.1 mm，质心位置精度为 0.3 mm。光束观察软件可以通过实时半影和对称式测量对捕获的轮廓数据进行实时任意角度查看。捕获的图像可以导出到 ImageJ 或其他图像分析软件。

所有作均由随附相机模型的笔记本电脑或台式电脑控制。XRV 配有 30 米（100 英尺）USB3 光纤供电扩展器电缆，以便系统 PC 和操作员可以安全地远离辐射源。数码相机模型重约 7.0 公斤（15.5 磅），存放在作为系统一部分提供的鹈鹕盒中。

特点和优点：

质子和 X 射线束分析与质量保证

实时 320 × 320 mm 光束轮廓和位置捕获

360 度旋转，可选的龙门支架

有效分辨率 0.3 mm，每像素 8 或 12 位

灵活的闪烁体、基准、楔形和堆积选项

BeamWorks Strata 软件包括 GUI 或脚本作

单独或集成帧捕获模式

先进的光束轮廓查看和测量

统计分析宏，可轻松导出到电子表格

使用可选的 LCW-200 或 LCW-300 进行质子范围验证