德国欧普士optris 红外测温仪PI 640i LT 12°x 9° MO

# 2025年新品发布会#

日期：2025年12月6日

时间：8：30-18：30

近期我司新推出升级了

德国欧普士optris 红外测温仪PI 640i LT 12°x 9° MO

德国欧普士optris 红外测温仪PI 640i LT 12°x 9° MO

为 PI 640i 热成像仪设计的显微镜镜头针对电子板和小型芯片级元件的热检测进行了优化，分辨率可达到 28 μm。这些红外成像系统便于免持式操作，可同时进行测试和辐射测量。测量物体与热像仪之间的距离可在 80 至 100 毫米之间调节。高性能红外热像仪 optris PI 640i 显微镜支持 VGA 分辨率，确保了优秀的红外图像质量。其佳像素间距为 17 微米，适合长波红外辐射，灵敏度高，热噪声小，可对小到 3 x 3 像素的小目标进行精确测量。

分析小至 28 μm 的芯片级元件

光谱范围：8 至 14 微米

像素分辨率高达 640 x 480

帧频 32 Hz，子图像高达 125 Hz

温度分辨率（NETD）为 80 mK

可更换、可对焦的光学镜组，可最灵活地使用相机

附带显微镜支架，可免持同时操作/测试

可更换、可对焦镜头，以最灵活的方式使用相机

PI 640i 红外显微镜套件是需要对小型电子设备或微机电系统 (MEMS) 进行精确温度数据测试的工程师的理想之选。能否看到热变化并对小目标进行测量取决于探测器的分辨率，而光学器件可将来自设备的热能聚焦到红外热像仪的探测器元件上。这确保了精确、可靠的温度测量，对微型元件的详细热分析至关重要。

许多工程师发现，在小型电子设备上使用接触式热电偶进行的温度测量与使用配备适当的红外热像仪进行的测量结果不一致。当目标尺寸较小时，这种差异很常见，因为与热电偶的连接会成为热桥，将热量从目标传导出去。在这种情况下，使用非接触式红外热像仪进行测量更为精确，因为它们避免了接触式方法所带来的热传导问题。

与在可见光谱下工作的显微镜一样，为任何应用选择合适的光学镜片都需要在总观察视野与需要观察和测量的最小目标之间进行权衡。PI 640i 显微镜物镜可在 18.2 毫米 x 13.8 毫米的总视场内检测小至 28 微米的目标上的温度变化。采用标准宽视场光学镜组的高分辨率红外热像仪只有在使用合适的红外显微镜光学镜组时才能对微电子目标进行精确测量。PI 640i 显微镜组件将高分辨率红外热像仪与德国设计的红外显微镜物镜和用于调整工作距离的精密安装平台结合在一起，确保对小型目标进行精确的热测量和分析。

大多数红外热像仪制造商都会采用单一像素尺寸或 IFOV（瞬时视场角）来宣传热像仪分辨小目标的能力。然而，使用红外热像仪精确测量温度始终需要一个以上的像素。探测器间距或像素元件尺寸较小的红外热像仪可能需要多达 7 x 7 个像素，才能在热像仪的精度规格范围内进行温度测量。MFOV（测量视场）规格对于获得正确的温度测量结果至关重要，因为它考虑到了确保读数准确所需的像素数量。

与其他像素较小的红外热像仪不同，除了热噪声低之外，长波红外辐射的佳像素间距为 17 微米，因此测量视场（MFOV）很小，仅为 3 x 3 像素。尺寸更大的光学器件还保证了高图像质量，大限度地减少了图像失真，并确保整个图像的均匀衰减。有多种可更换镜头光学器件可供选择，以正确取景并大限度地提高待测目标的像素数。红外热像仪在标准模式下支持 32 Hz 的帧频，在高速子帧模式下支持 125 Hz 的帧频，可用于监测快速制造过程。

PI 640i 与 Optris PIX Connect 软件配合使用，该软件可免费下载，并可免费更新。PIX Connect 软件包包括用于定位热点和冷点、直方图、温度曲线、图像减法和其他热图像处理功能的工具。对于研究人员和制程工程师来说，基于 PC 的 PIX Connect 平台具有强大的热图像处理功能，使用户能够从场景中的任何像素提取并记录校准的温度测量值。

时间-温度数据可从实时热视频馈送和包含已存储温度数据的热视频文件中提取。工程师可利用数据采集功能，从任何大小或形状的区域中提取高、低和平均温度，以及复杂的报警信号。此外，系统还支持逐帧重放已存储的热视频，使工程师能够捕捉和存储辐射图像，并在温度变化时触发快照。

许多工程师会使用温度/时间功能长期采集电气设备上多个位置的数据，该功能可按用户指定的时间间隔记录数据，并将其存储在 .csv 文件中。有些工程师更喜欢捕捉完整图像，并使用校准序列文件或校准 .tiff 图像，这些图像可以按用户指定的时间间隔记录。快照序列存储例程还支持以用户指定的时间间隔存储完整温度矩阵的 CSV 文件，为分析提供全面的数据。