产品分类

Products

新闻中心/ NEWS

我的位置:首页  >  新闻中心  >  上新 SANKO三高 EX-731 X射线荧光涂层厚度计

上新 SANKO三高 EX-731 X射线荧光涂层厚度计

更新时间:2026-04-25      浏览次数:7

# 2026年新品发布会#

日期:2026年4月25日

时间:8:30-18:30

近期我司新推出升级了

SANKO三高 EX-731  X射线荧光涂层厚度计

SANKO三高 EX-731  X射线荧光涂层厚度计

固定部件显示器显示,可直观显示被测物体的镀层粘附分布。

Windows软件的采用增强®了报表创建功能

注意:使用该证书时,您需要通知相关劳动标准检查办公室。

X射线源 油浸式小型微聚焦X射线管

目标:钨管 电压:50kV/管,电流可变

照射方法

上述垂直辐照方法

探测器

比例计数管

可测量范围

原子序数 22~24: 0.02 ~ 约 20 微米 原子

序数 25 ~ 40: 0.02 ~ 约 30 微米 原子

序数 41 ~ 51: 0.02 ~ 约 70 微米 原子

序数 52 ~ 83: 0.01 ~ 约 10 微米

样本观察  CCD彩色相机

表格大小  240×220毫米(手动170×110毫米)

被测物体的最大高度  50mm(手动80mm,选装150mm)

尺寸  600(W)×465(民主)×754(H)