德国Optris欧普士 红外测温仪 大连
紧凑型工业用 Optris Xi 440 是一款基于 USB 的红外热像仪，具有 640 x 480 像素的光学分辨率。

Optris Xi 1M 是一款短波红外热像仪，擅长对具有挑战性的物体进行非接触热成像。它能够精确测量热金属、钢铁、陶瓷和半导体的表面温度。凭借自主热测量能力和电动对焦功能，该热像仪在工业环境中提供了可靠性和便利性，无需额外的硬件。它配备了以太网、USB 接口，以及模拟和数字过程接口，实现了与控制系统和机械设备的无缝集成。Optris Xi 1M 是一款短波红外热像仪，在非接触热成像领域提供了创新、经济实惠和高精度的性能，专门用于测量具有挑战性的物体表面温度。设计在短波红外范围内工作（波长：0.85 – 1.1 μm），这款前视红外热像仪专为捕捉热钢、铁、黄铜、铜、锡、碳、陶瓷和半导体的精确表面温度分析而设计。为了满足各行业的严格要求，Optris Xi 1M 提供了宽广的高温测量范围、准确性和可定制的视场配置。

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许多由非光亮材料组成的测量物体在长波红外光谱范围内显示出较高且相对恒定的发射率，而这些材料在长波红外波段的低发射率会导致测量结果的不稳定和不可靠。短波 Xi 1M 红外热像仪的光谱范围与大多数金属材料的高发射率相匹配，从而简化了远程温度测量。此外，根据普朗克辐射定律，在短波范围内发射的红外辐射显著增加，因此线性发射率问题对短波温度测量结果的重复性影响较小。因此，在考虑到较高的温度测量范围时，对高温光亮材料的非接触温度测量应尽可能使用短波段。

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这些红外热像仪能够自主寻找热热点，增强了在各种监控和检查任务中的实用性和效率。Xi 1M 红外热像仪专为这些具有挑战性的工业应用设计和制造，在精度、准确性和重复性方面优于长波红外热像仪。

Xi 1M 红外热像仪具有中等分辨率的热成像能力（396 x 300 像素），能够在 450°C 至 1800°C 的广泛温度范围内出色地捕捉温度数据，无需子范围。其距离与点大小比率确保即使在相当远的距离拍摄图像时也能准确测量温度。这种比率超越了现代高温计的光学性能，使其能够详细监控远距离目标。此外，电动对焦功能允许用户远程精确调整其表面温度测量目标的焦点。

Optris Xi 1M 工业级和坚固的设计确保了在苛刻工业环境中的可靠性，使其成为工艺工程师在制造过程中进行精确红外温度测量的工具。其紧凑但耐用且防水的设计使该红外热像仪非常适合固定安装或挂载设置，保证在各种工业制造环境中的耐用性。

型号Xi1M 7°x5°Xi1M 14°x10°Xi1M 28°x21°Xi1M 7°x5° CF

探测器

光学分辨率全分辨率：396×300 像素（以太网）;

子帧模式：132×100 像素（USB，自主模式）;

线扫描：396×8 像素（以太网）;

线扫描：396×1 像素（以太网，自主模式）

像素间距15 µm

探测器CMOS

光谱范围高温测量: 0.85 – 1.1 µm

光学滤镜无

帧率20 Hz

光学

视场角7°x5° (396×300 像素)14°x10° (396×300 像素)28°x21° (396×300 像素)7°x5° CF (396×300 像素)

焦距 [毫米]50251250

F值2.81.822.8

光学分辨率806:1401:1195:1830:1

到目标的最小距离800 mm300 mm300 mm500 mm

可更换光学器件No

测量

物体测量范围450 °C … 1800 °C (20Hz)

550 °C … 1800°C (500Hz) **1)

精度物体温度 < 1400 °C：读数的 ±1%

物体温度 < 1600 °C：读数的 ±2%

热灵敏度 (NETD)< 2 K (小于900 °C时) / < 4 K (小于1400 °C时)

最小可检测点大小 IFOV: 1像素0.3mm0.5mm0.7mm0.1mm

最小可测量点大小 MFOV1.2mm2.5mm2.8mm0.4mm

MFOV测量视场4×4 像素

预热时间10 分钟

发射率/透过率/反射率可调：0.100…1.100

接口

接口USB 2.0，以太网 (100 Mbit/s)

支持的协议USB，以太网（静态），RS485，串行通信

可选：EthernetIP, ProfiNet, Modbus TCP

兼容软件PIXConnect, EasyComm, ConnectSDK, EasyAPI, DirectSDK